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設(shè)備用途
設(shè)備主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。本試驗設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照國家標準要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便于產(chǎn)品設(shè)計、改進、鑒定及出廠檢驗用。
設(shè)備符合標準
GB 10589 低溫試驗箱技術(shù)條件
GB 10592 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB 11158 高溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T5170.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備
GB2423.1 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法
GB2423.2 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法
GB2424.1 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導(dǎo)則
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型號 |
GDW-50 |
GDW-100 |
GDW-150 |
GDW-225 |
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工作室尺寸:mm |
350×350×450 |
400×450×550 |
500×500×600 |
500×600×750 |
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型號 |
GDW-408 |
GDW-800 |
GDW-1000 |
GDW-1500 |
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工作室尺寸:mm |
650×750×850 |
800×1000×1000 |
1000×1000×1000 |
1500×1000×1000 |
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技
術(shù)
參數(shù) |
溫度范圍 |
A型-20℃+100℃(+150℃)/ B型 -40℃+100℃(+150℃)
C型 -70℃+100℃ |
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波動度 |
≤±0.5℃ |
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均勻度 |
≤2℃ |
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升溫速率 |
1.03.0℃/min |
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降溫速率 |
0.71℃/min | |
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