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| 英國(guó)雷尼紹SEM-拉曼系統(tǒng) |
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| 關(guān)鍵字：英國(guó)雷尼紹SEM-RAMAN系統(tǒng) dbzz 產(chǎn)品簡(jiǎn)介： 雷尼紹公司的結(jié)構(gòu)與化學(xué)成分分析儀 (SCA)，將掃描電子顯微鏡 (SEM) 和拉曼光譜這兩種成熟的技術(shù)結(jié)合在一起，實(shí)現(xiàn)了一種強(qiáng)大的獨(dú)創(chuàng)技術(shù)，即無需在不同儀器之間移動(dòng)樣品，就可對(duì)同一點(diǎn)樣品的形貌、元素、化學(xué)成分、物理及電子學(xué)特性等進(jìn)行分析。 功能： 從SEM (SEI和BEI) 獲得形貌和平均原子數(shù)從EDS分析獲得元素成分 從拉曼光譜獲得化學(xué)成分和物質(zhì)鑒定 從拉曼光譜獲得物理結(jié)構(gòu)（晶體的及力學(xué)數(shù)據(jù)） 從陰極發(fā)光 (CL) 和光致發(fā)光 (PL) 獲得 電子及物理結(jié)構(gòu)信息 特點(diǎn)： 同時(shí)做掃描電鏡 (SEM) 和拉曼光譜用SEM可方便地確定感興趣的區(qū)域。然后可以用拉曼光譜快速確切地鑒定這些區(qū)域。 來自相同樣品位置的能譜 (EDS) 和白光成像 與SEM成像和拉曼光譜一樣，能譜、逐點(diǎn)掃描成像和白光成像均可從相同樣品位置獲得。 陰極發(fā)光 (CL) 和光致發(fā)光 (PL) 光譜 用于拉曼光譜采集的光學(xué)元件與光致發(fā)光 (PL) 和陰極射線發(fā)光 (CL) 光譜完全兼容。前者使用激光作為激發(fā)源，而后者使用電子束。每種技術(shù)都能夠揭示樣品在電子學(xué)和物理學(xué)兩方面的信息，而陰極射線發(fā)光對(duì)樣品成分和殘留應(yīng)力的細(xì)微變化十分敏感。 應(yīng)用領(lǐng)域： 材料科學(xué)腐蝕研究、電子材料、高分子、復(fù)合材料 半導(dǎo)體 鑒別微粒污染物等 藥品 涂層、藥物填料和賦形劑鑒別及多態(tài)性的研究 刑偵科學(xué) 炸藥、毒品、纖維、顏料的鑒定
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